IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABTH18504APM - Integrated Circuits (ICs)

All prices are in EUR.

Digi-Key partnummer

296-4135-ND

Prijsniveau	Prijs per stuk	Totaalprijs

Partnummer fabrikant

SN74ABTH18504APM

Beschrijving

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Beschikbare hoeveelheid

Non-Stock

Als het gevraagde aantal hoger is dan de afgebeelde hoeveelheid in de prijstabel, kan een lager aantal worden afgebeeld op uw bestelling.
U kunt een prijsaanvraag indienen voor aantallen die hoger zijn dan de hoeveelheden afgebeeld in de prijstabel.

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABTH18504APM - Integrated Circuits (ICs)

Technische/Catalogusinformatie	SN74ABTH18504APM
Verkoper	Texas Instruments
Categorie	Integrated Circuits (ICs)
Number of Circuits	20-Bit
Series	74ABTH
Package / Case	64-TQFP
Logic Type	Scan Test Universal Bus Transceiver
Packaging	Tray
Mounting Type	*
Number of Inputs	*
Output Current High, Low	*
Supply Voltage	*
Loodvrij-status	Lead Free
BvGS-status	RoHS Compliant
Andere namen	SN74ABTH18504APM SN74ABTH18504APM 296 4135 ND 2964135ND 296-4135

Image of IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABTH18504APM

Image shown is a representation only. Exact specifications should be obtained from the product data sheet.

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABTH18504APM
(296-4135-ND) - Integrated Circuits (ICs)

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABTH18504APM - Integrated Circuits (ICs)

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP - SN74ABTH18504APM (296-4135-ND) - Integrated Circuits (ICs)